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MR饱和现象及空间饱和技术

2018-12-25 10:15| 发布者: admin| 查看: 258| 评论: 1|原作者: admin

摘要: 饱和现象 MR成像时,在RF激发前由于某种原因导致纵向磁化矢量减小甚至消失的现象称为饱和现象,常见的如TR时间过短导致横向磁化矢量没有足够的时间完全恢复至Z轴,而后施加RF激发后,该磁化矢量不足导致MR信号减弱 ...
饱和现象
MR成像时,在RF激发前由于某种原因导致纵向磁化矢量减小甚至消失的现象称为饱和现象,常见的如TR时间过短导致横向磁化矢量没有足够的时间完全恢复至Z轴,而后施加RF激发后,该磁化矢量不足导致MR信号减弱的饱和现象。
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三.利用饱和带技术可有效减轻卷积伪影
请转至相关阅读:
磁共振伪影—— 卷褶伪影(Wraparound/Foldover/Alias artifact)
360截图20181127220844149.jpg

参考文献:
靳二虎, 蒋涛, 张辉. 磁共振成像临床应用入门(第2版)[J]. 中国临床医生杂志, 2015(4).
B.Kastler. 深入了解MRI基础[M]. 人民军医出版社, 2012.
杨正汉. 磁共振成像技术指南[M]. 人民军医出版社, 2010.
杨微. 磁化传递技术与时间飞跃法在MRA中的应用比较[J]. 医药前沿, 2017, 7(30).

相关阅读  
MR质控之伪影篇(一)
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引用 DEEP 2019-1-8 10:26
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